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詳細摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...

詳細摘要： 日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計。

詳細摘要： 日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日...

詳細摘要： FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料...

詳細摘要： FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料...

詳細摘要： 日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。

詳細摘要： 日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日...

詳細摘要： 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡“SU5000“，搭載了全新的用戶界面和“EM Wizard“，無論用戶的操...

詳細摘要： 日立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產品結構緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...

詳細摘要： 操作簡單：卡爾費休滴定法緊湊模型平沼卡爾費休水分儀AQ-300高級功能濃縮為小巧的機身。您不必擔心安裝空間，可以以較低的成本通過卡爾費休滴定度法進行高精度測量。

詳細摘要： 小體積滴定池僅需 20 mL KF試劑即可進行準確測量。更少的試劑量減少了浪費，并且在下次測量時易于更換新的試劑。

詳細摘要： 測定功能大幅提升：采用連續電解法的特殊測定模式提高了超痕量級水分測定（低于10 μg）的精確度。

詳細摘要： 操作簡單卡爾費休容量法緊湊型

詳細摘要： 庫倫法微量水分測定儀MOICO-A19l8.4 英寸彩色液晶觸摸屏l16 級液晶顯示角度調節l語音向導l各種 LED 顯示lUSB 存儲器的數據管理，內置熱敏打...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...

詳細摘要： “TM4000"和“TM4000Plus"可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地...

詳細摘要： 此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。

詳細摘要： 對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。

詳細摘要： 在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。SEM用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車...